Marka: Pan Analytical

Model: Axios Max WD-XRF

Çalışma Prensibi

Cihazda X-ışınları kaynağından çıkan primer radyasyon örnek üzerine gönderilir. Bu yüksek enerji girişi yakın yörüngelerdeki elektronları daha yüksek enerji düzeyine çıkarır.
Uyarılan elektronlar ilk enerji düzeylerine döndüklerinde kazanmış oldukları fazla enerjiyi dalga boyu 0,1-50 Å olan X ışınları şeklinde geri verirler. Bu ikincil X ışınları yayımına floresans ışıma adı verilir.
Elementlerin verdiği bu ışımaların dalga boyu her element için farklı ve ayırtmandır.
Işımanın dalga boyunun saptanmasıyla elementin cinsi (nitel), saptanan bu ışının yoğunluğunun ölçülmesiyle element konsantrasyonu (nicel) belirlenmektedir.

Uygulama Alanları

Jeoloji Mühendisliği Bölümü bünyesinde faaliyet gösteren WD-XRF sistemi ile Toprak, kayaç, çökel, maden gibi jeolojik-mineralojik örnekler ile metal, alaşım, radyoaktif cevher, plastik, kağıt, cam, bitki, petrol ürünleri vb. numunelerde uygun standartlar kullanılarak Bor’dan Uranyum’a kadar olan elementlerin analizleri ppm mertebesinden % seviyesine kadar gerçekleştirilebilmektedir.

Cihaz Sorumlusu: Dr. Öğr. Üyesi Bahattin GÜLLÜ
İletişim: +90 382 288 3745